Statistical tests

Assessing weights of evidence for discussing classical statistical hypotheses / Egbert Adriaan van der Meulenschema:ProductModel Bootstrap bounds / Shanti Adensi Venetiaanschema:ProductModel Compendium hypothesetoetsen / D. Neeleman en J. van Bolhuisschema:ProductModel Compilation and classification of statistical tests / Maja van Logchemschema:ProductModel Evidences of interdependence and contagion using a frequency domain framework / Vincent Bodart, Bertrand Candelonschema:ProductModel Evidences of interdependence and contagion using a frequency domain framework / Vincent Bodart, Bertrand Candelonschema:ProductModel Fisher 3.10 : testing independence in r×c tables / Albert Verbeek & Pieter M. Kroonenbergschema:ProductModel Goodness-of-fit tests in nonparametric regression / by J.H.J. Einmahl, I. van Keilegomschema:ProductModel Group testing models with processing times and incomplete identification / by Shaul K. Bar-Lev, Wolfgang Stadje [and] Frank A. van der Duyn Schoutenschema:ProductModel Handleiding voor statistische toetsen / Willem L. Zijpschema:ProductModel Hypergeometric group testing with incomplete information / by Shaul K. Bar-Lev, Wolfgang Stadje [and] Frank A. van der Duyn Schoutenschema:ProductModel Inductieve technieken / A.A.J. van Peet, G.L.H. van den Wittenboer, J.J. Hoxschema:ProductModel Inductieve technieken / A.A.J. van Peet, G.L.H. van den Wittenboer, J.J. Hox ; onder red. van J.H.L. van den Bercken ... [et al.]schema:ProductModel Inductieve technieken / A.A.J. van Peet, R.D. Stoel, J.J. Hoxschema:ProductModel Inductieve technieken / Arie van Peet, Kirsten Namesnik, Joop Hoxschema:ProductModel Inductieve technieken / G.L.H. van den Wittenboer, A.A.J. van Peet, J.J. Hoxschema:ProductModel Inferentiële statistiek / door H.W. van den Ende, W. Kremers en M.J. Verhoefschema:ProductModel Introduction to probability and statistical inference / George Roussasschema:ProductModel On finite sample properties of the test of Robinson (1994) for fractional integration / Bertrand Candelon, Luis A. Gil-Alanaschema:ProductModel Panel unit root tests in the presence of cross-sectional dependencies: comparison and implications for modelling / Christian Gengenbach, Franz C. Palm, Jean-Pierre Urbainschema:ProductModel ... show all 33

Hypothesetoetsingskos:Concept

Chi-kwadraatverdelingskos:Concept Mann-whitney's u-testskos:Concept T-testskos:Concept