Elektronenmicroscopie in Nederland : overzicht en evaluatie van 40 jaar speur- en ontwikkelingswerk in een technisch-fysisch specialisme / C.J.G. Bakker

FOM-rapport nr. 43105
rdfs:label "Elektronenmicroscopie in Nederland : overzicht en evaluatie van 40 jaar speur- en ontwikkelingswerk in een technisch-fysisch specialisme / C.J.G. Bakker"
schema:name "Elektronenmicroscopie in Nederland : overzicht en evaluatie van 40 jaar speur- en ontwikkelingswerk in een technisch-fysisch specialisme"
schema:author Stichting voor Fundamenteel Onderzoek der Materie
Bakker, Christianus Johannes Gerardus (1948-)
schema:description "FOM-rapport nr. 43105"
schema:sameAs <http://www.worldcat.org/oclc/64978146>
schema:mainEntityOfPage <https://data.bibliotheken.nl/.well-known/genid/84ac308430a24333a924e6b7e3dd72e2>
http://purl.org/dc/terms#issued "1977"
schema:about Elektronenmicroscopie
schema:inLanguage "nl"
schema:numberOfPages 135
schema:publication <https://data.bibliotheken.nl/.well-known/genid/058b5031e9f52650d1d9213b605cf385>