Rapport / Vakgroep Onderwijskundige Meetmethoden en Data-analyse, Universiteit Twente

A review of IRT-based indices for detecting and diagnosing aberrant response patterns / Jan Kogutschema:ProductModel Detecting aberrant response patterns in the Rasch model / Jan Kogutschema:ProductModel Een classificatie van item vormen / Jos H.A.N. Rikersschema:ProductModel Een compensatorisch model voor beheersingsscores / Hans J. Vosschema:ProductModel Een overzicht van meerdimensionale itemresponsmodellen / Dirk L. Knolschema:ProductModel Het bijwerken van een itembank : bijstellen van de itemmoeilijkheid in het Rasch-model / C. Sluijterschema:ProductModel Het gebruik van het Raschmodel voor een decentraal toetsservicesysteem / G.R. Buning ... [et al.]schema:ProductModel Het ontwerpen van tests met verschillende optimaliteitscriteria / Martijn P.F. Berger, Wim J. van der Lindenschema:ProductModel Het verband tussen item respons theorie en factoranalyse voor dichotome items / Dirk L. Knolschema:ProductModel Inventarisatie van automatische itemselectie procedures voor Raschschalen / Dirk L. Knolschema:ProductModel LP-modellen voor maximalisatie van coëfficiënt alpha / Jos J. Ademaschema:ProductModel Normeringsmethoden voor inspectie-evaluaties / W.J. van der Linden, R.R. Meijer, H.J. Vosschema:ProductModel Reduction of bias in Rasch estimates due to aberrant patterns / Jan Kogutschema:ProductModel Simultane toetsconstructie en andere doelen dan maximalisatie van α / Jos Ademaschema:ProductModel Stapsgewijze itemselectieprocedures in het Raschmodel / Dirk J. Knolschema:ProductModel Testconstructie met klassieke item- en testparameters / J. Ademaschema:ProductModel