@prefix dcterms1: <http://purl.org/dc/terms#> .
@prefix rdfs: <http://www.w3.org/2000/01/rdf-schema#> .
@prefix schema1: <http://schema.org/> .
@prefix xsd: <http://www.w3.org/2001/XMLSchema#> .

<http://data.bibliotheken.nl/id/nbt/p165771801> a schema1:Book,
        schema1:CreativeWork,
        schema1:ProductModel ;
    rdfs:label "Beschrijving van de betrouwbaarheidsbeproevingsstructuren van de Europese mini proef-chip = Description of the reliability test structures of the European mini test chip / Nederlands Normalisatie-instituut, Nederlands Elektrotechnisch Comité" ;
    dcterms1:issued "1996" ;
    schema1:author <http://data.bibliotheken.nl/id/thes/p075304996> ;
    schema1:bookEdition "1e dr" ;
    schema1:contributor <http://data.bibliotheken.nl/id/thes/p075304686> ;
    schema1:description "Tekst in het Engels" ;
    schema1:inLanguage "en" ;
    schema1:isPartOf <http://data.bibliotheken.nl/id/nbt/p852701969> ;
    schema1:mainEntityOfPage <https://data.bibliotheken.nl/.well-known/genid/a7a326f8c5bcbd7626de0e4cd2646392> ;
    schema1:name "Beschrijving van de betrouwbaarheidsbeproevingsstructuren van de Europese mini proef-chip = Description of the reliability test structures of the European mini test chip" ;
    schema1:numberOfPages 35 ;
    schema1:publication <https://data.bibliotheken.nl/.well-known/genid/25d38eda4674c3f3fbcbaabb22927be8> .