@prefix dcterms1: <http://purl.org/dc/terms#> .
@prefix rdfs: <http://www.w3.org/2000/01/rdf-schema#> .
@prefix schema1: <http://schema.org/> .
@prefix xsd: <http://www.w3.org/2001/XMLSchema#> .

<http://data.bibliotheken.nl/id/nbt/p146024125> a schema1:Book,
        schema1:CreativeWork,
        schema1:ProductModel ;
    rdfs:label "Beter weten door meten / J.H.M. Luchters, E.A. van der Zaag" ;
    dcterms1:issued "1995" ;
    schema1:about <http://data.bibliotheken.nl/id/thes/p075600455>,
        <http://data.bibliotheken.nl/id/thes/p075618478>,
        <http://data.bibliotheken.nl/id/thes/p077607643>,
        <http://data.bibliotheken.nl/id/thes/p07861905X>,
        <http://data.bibliotheken.nl/id/thes/p078626676> ;
    schema1:author <http://data.bibliotheken.nl/id/thes/p069081980> ;
    schema1:contributor <http://data.bibliotheken.nl/id/thes/p146297148> ;
    schema1:description "Ondertitel op omslag: Het inzetten van assessment bij selectie en ontwikkeling van medewerkers en bij conflicten in de organisatie" ;
    schema1:inLanguage "nl" ;
    schema1:isPartOf <http://data.bibliotheken.nl/id/nbt/p134846990> ;
    schema1:mainEntityOfPage <https://data.bibliotheken.nl/.well-known/genid/fda6b67e34134680ceddffe8981e83f2> ;
    schema1:name "Beter weten door meten" ;
    schema1:numberOfPages 36 ;
    schema1:publication <https://data.bibliotheken.nl/.well-known/genid/02a35bf889e1ca887f15b8c3e573e77f> ;
    schema1:sameAs <http://www.worldcat.org/oclc/68920985> .